Article Dans Une Revue
Materials Science Forum
Année : 2002
Jean-Baptiste VU VAN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://utt.hal.science/hal-02278201
Soumis le : mercredi 4 septembre 2019-10:58:40
Dernière modification le : vendredi 12 janvier 2024-16:46:39
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02278201 , version 1
- DOI : 10.4028/www.scientific.net/MSF.404-407.89
Citer
C. Pilé, Delphine Retraint, Manuel François, Jian Lu. Generation of Extremely High Stress Levels in a TiAl Based Alloy. Materials Science Forum, 2002, 404-407, pp.89-94. ⟨10.4028/www.scientific.net/MSF.404-407.89⟩. ⟨hal-02278201⟩
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