Mid-IR photothermal measurement of substantial heat transport by surface waves of polar amorphous films supported on silicon - Université de technologie de Troyes Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2020
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02980976 , version 1 (27-10-2020)

Identifiants

Citer

Sobhe Hamyeh, Rabih Tauk, Pierre-Michel Adam, Michel Kazan. Mid-IR photothermal measurement of substantial heat transport by surface waves of polar amorphous films supported on silicon. Journal of Applied Physics, 2020, 128 (9), pp.095105. ⟨10.1063/5.0015577⟩. ⟨hal-02980976⟩

Collections

CNRS UTT
36 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More