Structure and characterization of Sn, Al co-doped zinc oxide thin films prepared by sol–gel dip-coating process - Université de technologie de Troyes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Structure and characterization of Sn, Al co-doped zinc oxide thin films prepared by sol–gel dip-coating process

Domaines

Optique / photonique

Jean-Baptiste VU VAN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://utt.hal.science/hal-02866222

Soumis le : vendredi 12 juin 2020-12:34:18

Dernière modification le : mardi 16 janvier 2024-03:50:34

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02866222 , version 1 (12-06-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02866222 , version 1

Citer

David Legrand, Min-I Lee, Mao-Chia Huang, Gilles Lerondel, Jing-Chie Lin. Structure and characterization of Sn, Al co-doped zinc oxide thin films prepared by sol–gel dip-coating process. TACT2013 International Thin Films Conference, Oct 2013, Taipei, Taiwan. ⟨hal-02866222⟩

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