Communication Dans Un Congrès
Année : 1996
Jean-Baptiste VU VAN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://utt.hal.science/hal-02861500
Soumis le : mardi 9 juin 2020-09:14:31
Dernière modification le : vendredi 12 janvier 2024-16:45:57
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02861500 , version 1
Citer
Remy La, Bruno Benoist, Benoit de Barmon, Régis Lengellé, Paul Gaillard, et al.. An Eddy Current Parametric Model for Flaw Characterization. 14th World Conference on Non Destructive Testing, Dec 1996, New Delhi, India. ⟨hal-02861500⟩
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