Use of the critical points model as law of dispersion for the modeling of plasmonic structures using the FDTD method - Université de technologie de Troyes Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2009

Use of the critical points model as law of dispersion for the modeling of plasmonic structures using the FDTD method

Domaines

Optique / photonique

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https://utt.hal.science/hal-02861424

Soumis le : mardi 9 juin 2020-06:25:18

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Dates et versions

hal-02861424 , version 1 (09-06-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02861424 , version 1

Citer

Alexandre Vial, Thierry Laroche. Use of the critical points model as law of dispersion for the modeling of plasmonic structures using the FDTD method. Bubendorff, J.-L., and F. H. Lei. Advanced Techniques and applications on scanning probe microscopy, Research Signpost, pp.23-46, 2009, 9788178953786. ⟨hal-02861424⟩

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