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Conference papers
Round robin of external samples for residual stress analyses by X-ray diffraction
Fabien Lefebvre
1
Eric Wasniewski
Thierry Bergey
A. Roth
Manuel Francois
2
Patrick Allain
P. Le-Bec
3
C. Fisher
Sophie Berveiller
4
Laurence Besnauld
L. Mermillod-Blondin
Yann Cheynet
Renaud Frappier
Guillaume Geandier
5
Marie-José Moya
F. Savrot
2
LASMIS - Laboratoire des Systèmes Mécaniques et d'Ingénierie Simultanée
ICD - Institut Charles Delaunay
1
CETIM - Centre Technique des Industries Mécaniques (52, Avenue Félix - Louat - BP 80067 60304 Senlis Cedex - France)
- Etablissement de Senlis (France)
2
LASMIS - Laboratoire des Systèmes Mécaniques et d'Ingénierie Simultanée (12 rue Marie Curie - BP 2060 10010 TROYES CEDEX - France)
- ICD - Institut Charles Delaunay (12, rue Marie Curie BP 2060 - 10010 Troyes Cedex - France)
- UTT - Université de Technologie de Troyes (12 rue Marie Curie CS 42060 10004 TROYES CEDEX - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6281 (France)
3
EDF R&D MMC - Matériaux et Mécanique des Composants (France)
- EDF R&D - EDF R&D (France)
- EDF - EDF (France)
4
LEM3 - Laboratoire d'Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (F-57070 Metz - France)
- UL - Université de Lorraine (34 cours Léopold - CS 25233 - 54052 Nancy cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique (France)
- Arts et Métiers Sciences et Technologies (151 boulevard de l'Hôpital 75013 Paris - France)
- HESAM - HESAM Université (15, rue Soufflot 75005 Paris - France)
5
IJL - Institut Jean Lamour (Institut Jean Lamour - CNRS - Université de Lorraine. Campus Artem 2 allée André Guinier BP 50840 54011 Nancy Cedex - France)
- UL - Université de Lorraine (34 cours Léopold - CS 25233 - 54052 Nancy cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7198 (France)
Document type :
Conference papers
Domain :
Complete list of metadatas
https://hal-utt.archives-ouvertes.fr/hal-02615055
Contributor : Jean-Baptiste Vu Van <>
Submitted on : Friday, May 22, 2020 - 9:14:06 AM
Last modification on : Friday, July 17, 2020 - 2:58:25 PM
Contributor : Jean-Baptiste Vu Van <>
Submitted on : Friday, May 22, 2020 - 9:14:06 AM
Last modification on : Friday, July 17, 2020 - 2:58:25 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-02615055, version 1
Collections
P2MN | UNIV-LORRAINE | INC-CNRS | LEM3-UL | EDF | IJL-UL | UTT | CNRS | ARTS-ET-METIERS-SCIENCES-ET-TECHNOLOGIES
Citation
Fabien Lefebvre, Eric Wasniewski, Thierry Bergey, A. Roth, Manuel Francois, et al.. Round robin of external samples for residual stress analyses by X-ray diffraction. 10th European Conference on Residual Stresses, ECRS-10, Sep 2018, Leuven, Belgium. ⟨hal-02615055⟩
Metrics
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