Round robin of external samples for residual stress analyses by X-ray diffraction

Fabien Lefebvre (1) , Eric Wasniewski (1) , Thierry Bergey (2) , A. Roth , Manuel François (3) , Patrick Allain , P. Le-Bec (4) , C. Fisher , Sophie Berveiller (5) , Laurence Besnauld , L. Mermillod-Blondin , Yann Cheynet , Renaud Frappier , Guillaume Geandier (6) , Marie-José Moya , F. Savrot

1 CETIM - CEntre Technique des Industries Mécaniques
2 ArianeGroup
3 LASMIS - Laboratoire des Systèmes Mécaniques et d'Ingénierie Simultanée
4 EDF R&D MMC - Matériaux et Mécanique des Composants
5 LEM3 - Laboratoire d'Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux
6 IJL - Institut Jean Lamour

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]

Fabien Lefebvre, Eric Wasniewski, Thierry Bergey, A. Roth, Manuel François, et al.. Round robin of external samples for residual stress analyses by X-ray diffraction. 10th European Conference on Residual Stresses, ECRS-10, Sep 2018, Leuven, Belgium. ⟨hal-02615055⟩