Simultaneous 2D in-plane displacement field measurement using electronic speckle pattern interferometry (ESPI) with sinusoidal phase modulations - Université de technologie de Troyes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Simultaneous 2D in-plane displacement field measurement using electronic speckle pattern interferometry (ESPI) with sinusoidal phase modulations

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://utt.hal.science/hal-02613799

Soumis le : mercredi 20 mai 2020-13:27:45

Dernière modification le : vendredi 12 janvier 2024-16:48:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02613799 , version 1 (20-05-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02613799 , version 1

Citer

Yunlong Zhu, Julien Vaillant, Guillaume Montay, Manuel François, Aurélien Bruyant. Simultaneous 2D in-plane displacement field measurement using electronic speckle pattern interferometry (ESPI) with sinusoidal phase modulations. 9th International Conference on Information Optics and Photonics CIOP 2017, Holography and related processing, Jul 2017, Harbin, China. ⟨hal-02613799⟩

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