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Conference papers
Platine porte-échantillon à course millimétrique pour la microscopie en champ proche
A. Sinno
1
Luc Chassagne
1
Pascal Ruaux
1
Y. Topcu
Gilles Lerondel
2
Pascal Royer
2
Sylvain Blaize
2
Ilan Stefanon
2
2
LNIO - Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique
ICD - Institut Charles Delaunay
A. Sinno 1
Author
Luc Chassagne 1
Author IdHAL : luc-chassagne ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4240-4591
Pascal Ruaux 1
Author
Y. Topcu
Author
Gilles Lerondel 2
Author IdHAL : gilles-lerondel
Pascal Royer 2
Author
Sylvain Blaize 2
Author
Ilan Stefanon 2
Author
1
LISV - Laboratoire d'Ingénierie des Systèmes de Versailles (Bâtiment Boucher
Pôle scientifique et technologique de Vélizy
10-12 avenue de l'Europe
78140 Vélizy
Tél. : 01 39 25 49 65 - France)
- UVSQ - Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines : UR4048 (55 avenue de Paris - 78035 Versailles cedex - France)
2
LNIO - Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (12 rue Marie Curie - BP 2060 10010 TROYES CEDEX - France)
- ICD - Institut Charles Delaunay (12, rue Marie Curie BP 2060 - 10010 Troyes Cedex - France)
- UTT - Université de Technologie de Troyes (12 rue Marie Curie CS 42060 10004 TROYES CEDEX - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6281 (France)
Document type :
Conference papers
Domain :
Complete list of metadata
https://hal-utt.archives-ouvertes.fr/hal-02521712
Contributor : Jean-Baptiste Vu Van Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, March 27, 2020 - 3:34:30 PM
Last modification on : Friday, October 22, 2021 - 4:41:03 AM
Contributor : Jean-Baptiste Vu Van Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, March 27, 2020 - 3:34:30 PM
Last modification on : Friday, October 22, 2021 - 4:41:03 AM
Identifiers
- HAL Id : hal-02521712, version 1
Collections
UVSQ | LISV | UTT | CNRS | GS-SPORT-HUMAN-MOVEMENT
Citation
A. Sinno, Luc Chassagne, Pascal Ruaux, Y. Topcu, Gilles Lerondel, et al.. Platine porte-échantillon à course millimétrique pour la microscopie en champ proche. Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2007, Troyes, France. ⟨hal-02521712⟩
Metrics
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