Ilan Stefanon, Sylvain Blaize, Gilles Lerondel, Renaud Bachelot, Pascal Royer. Cartographie de champ dans des structures optiques intégrées sur silicium par microscopie optique de champ proche interférentielle hétérodyne.
GDR Ondes, Jun 2006, Paris, France.
⟨hal-02498940⟩