Cartographie de champ dans des structures optiques intégrées sur silicium par microscopie optique de champ proche interférentielle hétérodyne - Université de technologie de Troyes Access content directly
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Cartographie de champ dans des structures optiques intégrées sur silicium par microscopie optique de champ proche interférentielle hétérodyne

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Dates and versions

hal-02498940 , version 1 (04-03-2020)

Identifiers

  • HAL Id : hal-02498940 , version 1

Cite

Ilan Stefanon, Sylvain Blaize, Gilles Lerondel, Renaud Bachelot, Pascal Royer. Cartographie de champ dans des structures optiques intégrées sur silicium par microscopie optique de champ proche interférentielle hétérodyne. GDR Ondes, Jun 2006, Paris, France. ⟨hal-02498940⟩

Collections

CNRS UTT
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