Error signal artefact in apertureless scanning near field optical microscopy

Laurent Billot (1) , Marc Lamy de La Chapelle (2, 1) , Dominique Barchiesi (1) , Pierre-Michel Adam (1) , Jean-Louis Bijeon (1) , Renaud Bachelot (1) , Pascal Royer (1)

1 LNIO - Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique
2 IMMM - Institut des Molécules et Matériaux du Mans

Domaines: Optique / photonique

Laurent Billot, Marc Lamy de La Chapelle, Dominique Barchiesi, Pierre-Michel Adam, Jean-Louis Bijeon, et al.. Error signal artefact in apertureless scanning near field optical microscopy. Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2007, Troyes, France. ⟨hal-02482538⟩