Obervation of nanometric metallic particles with a polyvalent apertureless scanning near-field optical microscope - Université de technologie de Troyes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1999

Obervation of nanometric metallic particles with a polyvalent apertureless scanning near-field optical microscope

Domaines

Optique / photonique

Jean-Baptiste VU VAN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://utt.hal.science/hal-02477650

Soumis le : jeudi 13 février 2020-15:13:32

Dernière modification le : vendredi 2 février 2024-16:26:01

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02477650 , version 1 (13-02-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02477650 , version 1

Citer

Sakina Benrezzak, Pierre-Michel Adam, Pascal Royer, Jean-Louis Bijeon. Obervation of nanometric metallic particles with a polyvalent apertureless scanning near-field optical microscope. International Symposium on Photonetics and Applications, ISPA'99, Nov 1999, Singapore, Singapore. ⟨hal-02477650⟩

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