Caractérisation des pièges dans les transistors organiques - Université de technologie de Troyes Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2019

Caractérisation des pièges dans les transistors organiques

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

pierre-michel adam  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://utt.hal.science/hal-02427911

Soumis le : samedi 4 janvier 2020-15:35:45

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02427911 , version 1 (04-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02427911 , version 1

Citer

Ndèye Saly, Olivier Simonetti, Thien-Phap Nguyen, Pierre-Michel Adam, Louis Giraudet. Caractérisation des pièges dans les transistors organiques. Science et Technologie des Systèmes pi-Conjugués (SPIC), Oct 2019, Arras, France. ⟨hal-02427911⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-NANTES CNRS URCA IMN PMN INC-CNRS LRN UTT NANTES-UNIVERSITE
49 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More