Caractérisation des pièges dans les transistors organiques

Ndèye Saly; Olivier Simonetti; Thien-Phap Nguyen; Pierre-Michel Adam; Louis Giraudet

Conference Poster Year :

Caractérisation des pièges dans les transistors organiques

(1) , (1) , (2) , (3) , (1)

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3

Ndèye Saly

Function : Author

Laboratoire de Recherche en Nanosciences - EA 4682

Olivier Simonetti

Function : Author
PersonId : 794089
ORCID : 0000-0002-7614-2705
IdRef : 066943450

Laboratoire de Recherche en Nanosciences - EA 4682

Thien-Phap Nguyen

Function : Author

Institut des Matériaux Jean Rouxel

Pierre-Michel Adam

Function : Author

Lumière, nanomatériaux et nanotechnologies

Louis Giraudet

Function : Author
PersonId : 746194
IdHAL : louis-giraudet
ORCID : 0000-0002-5861-3374
IdRef : 03379989X

Laboratoire de Recherche en Nanosciences - EA 4682

Domains

Engineering Sciences [physics] Micro and nanotechnologies/Microelectronics

pierre-michel adam : Connect in order to contact the contributor

https://hal-utt.archives-ouvertes.fr/hal-02427911

Submitted on : Saturday, January 4, 2020-3:35:45 PM

Last modification on : Friday, June 2, 2023-3:14:37 PM

Dates and versions

hal-02427911 , version 1 (04-01-2020)

Identifiers

HAL Id : hal-02427911 , version 1

Cite

Ndèye Saly, Olivier Simonetti, Thien-Phap Nguyen, Pierre-Michel Adam, Louis Giraudet. Caractérisation des pièges dans les transistors organiques. Science et Technologie des Systèmes pi-Conjugués (SPIC), Oct 2019, Arras, France. ⟨hal-02427911⟩

Caractérisation des pièges dans les transistors organiques

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