Article Dans Une Revue
Materials Science in Semiconductor Processing
Année : 2017
Jean-Baptiste VU VAN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://utt.hal.science/hal-02283301
Soumis le : mardi 10 septembre 2019-16:29:38
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-10:50:03
Citer
Hui Sun, Mohammad Arab Pour Yazdi, Cedric Ducros, Sheng-Chi Chen, Eric Aubry, et al.. Thickness-dependent optoelectronic properties of CuCr 0.93 Mg 0.07 O 2 thin films deposited by reactive magnetron sputtering. Materials Science in Semiconductor Processing, 2017, 63, pp.295-302. ⟨10.1016/j.mssp.2017.03.002⟩. ⟨hal-02283301⟩
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