 |
Journal articles
Thickness-dependent optoelectronic properties of CuCr 0.93 Mg 0.07 O 2 thin films deposited by reactive magnetron sputtering
Hui Sun 1 Mohammad Arab Pour Yazdi 1 Cedric Ducros 2 Sheng-Chi Chen 3 Eric Aubry 1 Chao-Kuang Wen 4 Jang-Hsing Hsieh Frédéric Sanchette 5 Alain Billard 1
Eric Aubry 1
Author
IdRef : 120707470
Chao-Kuang Wen 4
Author
Jang-Hsing Hsieh
Author
Frédéric Sanchette 5
Author
ORCID : 0000-0002-4665-1891IdRef : 177130067
Alain Billard 1
Author
ORCID : 0000-0003-2232-0868IdRef : 075172623
1
FEMTO-ST - Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) (32 avenue de l'Observatoire 25044 BESANCON CEDEX - France)
- UTBM - Université de Technologie de Belfort-Montbeliard : UMR 6174 (France)
- ENSMM - Ecole Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques (École Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques 26, rue de l'épitaphe CS 51813 25030 BESANÇON CEDEX - FRANCE - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6174 (France)
- UFC - Université de Franche-Comté (1 rue Goudimel 25030 Besançon cedex - France)
2
LITEN - Laboratoire d'Innovation pour les Technologies des Energies Nouvelles et les nanomatériaux (France)
- INES - Institut National de L'Energie Solaire (Parc Technologique de Savoie Technolac 50 Av. du Lac Léman, Bâtiment Lynx - BP 332 F-73377 Le Bourget-du-Lac cedex - France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT/LITEN (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
- USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry] - Université Savoie Mont Blanc (27, rue Marcoz - 73000 Chambéry - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique (France)
3
Chang Gung University (France)
4
NTU - National Taiwan University [Taiwan] (No. 1, Sec. 4, Roosevelt Road, Taipei, 10617 Taiwan - Taiwan)
5
LASMIS - Laboratoire des Systèmes Mécaniques et d'Ingénierie Simultanée (12 rue Marie Curie - BP 2060 10010 TROYES CEDEX - France)
- ICD - Institut Charles Delaunay (12, rue Marie Curie BP 2060 - 10010 Troyes Cedex - France)
- UTT - Université de Technologie de Troyes (12 rue Marie Curie CS 42060 10004 TROYES CEDEX - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6281 (France)
Document type :
Journal articles
Complete list of metadata
https://hal-utt.archives-ouvertes.fr/hal-02283301
Contributor : Jean-Baptiste VU VAN Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Tuesday, September 10, 2019 - 4:29:38 PM
Last modification on : Sunday, June 26, 2022 - 4:48:02 AM
Contributor : Jean-Baptiste VU VAN Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Tuesday, September 10, 2019 - 4:29:38 PM
Last modification on : Sunday, June 26, 2022 - 4:48:02 AM
Identifiers
- HAL Id : hal-02283301, version 1
- DOI : 10.1016/j.mssp.2017.03.002
Collections
CEA | UNIV-SAVOIE | UGA | CNRS | UNIV-FCOMTE | UNIV-BM | FEMTO-ST | UNIV-BM-THESE | DRT | LITEN | CEA-GRE | UTT | INES
Citation
Hui Sun, Mohammad Arab Pour Yazdi, Cedric Ducros, Sheng-Chi Chen, Eric Aubry, et al.. Thickness-dependent optoelectronic properties of CuCr 0.93 Mg 0.07 O 2 thin films deposited by reactive magnetron sputtering. Materials Science in Semiconductor Processing, Elsevier, 2017, 63, pp.295-302. ⟨10.1016/j.mssp.2017.03.002⟩. ⟨hal-02283301⟩
Metrics
Record views