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Journal articles
Taking account of information maturity in assessing product risk
Guilain Cabannes 1
Author
Yee Mey Goh 2
Author
Nadège Troussier 3
Mail :
Author IdHAL : nadege-troussier ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6707-0300
Thierry Gidel 4
Mail :
Author IdHAL : thierry-gidel ORCID : https://orcid.org/0000-0003-0271-2565
Chris Mcmahon 5
Mail :
Author
1
Roberval - Roberval (Université de Technologie de Compiègne - Centre de Recherche de Royallieu - rue du Docteur Schweitzer- CS 60319 - 60203 COMPIEGNE Cedex - France)
- UTC - Université de Technologie de Compiègne (Université de Technologie de Compiègne - Centre de Recherche de Royallieu - rue du Docteur Schweitzer- CS 60319 - 60203 COMPIEGNE Cedex - France)
2
Loughborough University (Epinal Way, Loughborough, Leicestershire, UK, LE11 3TU - United Kingdom)
3
CREIDD - Centre de Recherches et d'Etudes Interdisciplinaires sur le Développement Durable (France)
- ICD - Institut Charles Delaunay (12, rue Marie Curie BP 2060 - 10010 Troyes Cedex - France)
- UTT - Université de Technologie de Troyes (12 rue Marie Curie CS 42060 10004 TROYES CEDEX - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR6281 (France)
4
COSTECH - Connaissance Organisation et Systèmes TECHniques (Université de Technologie de Compiègne - Centre de Recherche de Royallieu - rue du Docteur Schweitzer- CS 60319 - 60203 COMPIEGNE Cedex - France)
- UTC - Université de Technologie de Compiègne (Université de Technologie de Compiègne - Centre de Recherche de Royallieu - rue du Docteur Schweitzer- CS 60319 - 60203 COMPIEGNE Cedex - France)
5
University of Bristol [Bristol] (Senate House, Tyndall Avenue, Bristol BS8 1TH - United Kingdom)
Domain :
Complete list of metadatas
https://hal-utt.archives-ouvertes.fr/hal-02271546
Contributor : Jean-Baptiste Vu Van <>
Submitted on : Tuesday, August 27, 2019 - 9:04:10 AM
Last modification on : Monday, December 2, 2019 - 5:30:02 PM
Contributor : Jean-Baptiste Vu Van <>
Submitted on : Tuesday, August 27, 2019 - 9:04:10 AM
Last modification on : Monday, December 2, 2019 - 5:30:02 PM
Identifiers
- HAL Id : hal-02271546, version 1
- DOI : 10.1007/s12008-014-0228-1
Citation
Guilain Cabannes, Yee Mey Goh, Nadège Troussier, Thierry Gidel, Chris Mcmahon. Taking account of information maturity in assessing product risk. International Journal on Interactive Design and Manufacturing, Springer Verlag, 2014, 8 (4), pp.243-253. ⟨10.1007/s12008-014-0228-1⟩. ⟨hal-02271546⟩
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